화웨이 기술자와 우리 회사는 개전 상수 구매 항목을 소통하여 구매하였는데, 2개월에 걸친 소통을 거쳐 마침내 확정되었다

LJD 저주파절연 재료개전기 상수 매개체품질 손실 테스트 시스템은S916 테스트 장치(클램프),LJD는유형개전 상수 테스트 호스트, 구성국가 표준에 의거하다.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、미국 표준 ASTM D150 및 국제 전기 공학 위원회 IEC60250의 규정 설계 제작.시스템은 절연재료의 고주파 매체 손실각 탄젠트(tan 델타)와 유전체 상수(ε)를 자동으로 측정하는 솔루션을 제공한다.

일 이 장치에 적용되는 표준

1GBT 1409-2006 전기 절연 재료의 공정 주파수, 오디오, 고주파(미터파 파장 메모리 포함)에서의 커패시터 및 미디어 손실 인수를 측정하는 권장 방법

2GBT 1693-2007 황화고무 매개전기 상수 및 매체 손실각 정절값 측정방법

3 ASTM-D150 - 개전 상수 측정 방법

4GB9622.9-88/SKT 11043-1996 전자유리 고주파 매체 손실 및 매체 상수 측정 방법