스캔 협봉 반점 분석기는 주로 레이저 빔의 반점 크기, 에너지 분포, 발산각 및 M² 인자 등 핵심 매개변수를 측정하는 데 사용되며, 레이저 가공, 광섬유 통신 등 분야의 빔 품질 검측에 적용된다.
스캔 협봉 반점 분석기는 협봉을 이동하여 반점을 스캔하고 빛의 강도 분포를 측정하여 반점의 윤곽, 에너지 분포 및 빔 너비, 피크 중심, 타원율 등과 같은 핵심 매개변수를 정확하게 얻을 수 있습니다.다음은 핵심 특징, 응용 장면 및 구매 제안에 대한 상세한 분석입니다.
주요 기능:
작은 반점 측정 능력: 마이크로미터급 반점을 측정할 때 협봉식 분석기를 스캔하면 뚜렷한 장점을 가진다.카메라식은 픽셀 크기 제한으로 작은 반점 디테일을 정확하게 포착할 수 없고, 스캔 협봉식은 점별 스캔을 통해 반점 모양을 완전히 복원할 수 있다.
고출력 테스트 안정성: 카메라식 반점 분석기는 감쇠편을 통해 출력을 낮추어 포화를 피해야 하며, 스캔 협봉식은 협봉부의 빛의 강도를 직접 측정하여 추가 감쇠가 필요 없어 조작 과정을 간소화하고 테스트 안정성을 높인다.
복잡한 반점 처리 능력: 비고스 분포 또는 고급 가로 모드가 포함된 반점의 경우 카메라식은 픽셀 어레이를 통해 반점 형태를 동시에 수신하고 피드백할 수 있으며, 스캔 협봉식은 좁은 틈 방향에서 광 출력을 누적하면 세부 사항이 손실될 수 있다.그러나 여러 방향 스캔과 같은 스캔 정책을 최적화하여 스캔 슬림식은 여전히 이 결함을 부분적으로 보완할 수 있습니다.
공업 제조 응용
레이저 가공: 레이저 절단, 용접, 라벨링 등 과정 중의 빔의 품질을 모니터링하여 가공 정밀도와 효율을 확보한다.
광학 소자 검사: 렌즈, 반사경 등 소자의 제조 품질을 평가하고 편심도와 표면 매끄러움을 검사한다.
과학 연구 분야 응용
광속 특성 연구: 광속의 공간과 시간 특성을 분석하고 광학 부품의 비선형 효과와 광전송 감쇠를 평가한다.
미시적 구조 관찰: 광학 현미경의 미시적 구조 관찰과 나노 재료 분석에 사용된다.