단파장 X 형광 염소 분석기X선 형광 스펙트럼 (XRF) 기술을 기반으로 염소 원소 특징 스펙트럼 선 검측에 초점을 맞춘 전용 설비로, 핵심 우세는 신속, 무손상, 정확이며, 석유, 화학공업, 환경 등 염소 함량 관리 통제 장면에 널리 응용된다.그 작업원리는"격발-형광발생-검측"의 3단계를 둘러싸고 전개되는데 다원소분석의 파장색산X형광분석기에 비해 정향최적화를 통해 염소원소의 고효률검측을 실현한다.

설비가 작업할 때 X선관에서 발사된 초급 X선은 견본을 관통하여 염소원자의 내층전자의 약진을 불러일으키고 외층전자가 빈자리를 메울 때 특정파장의 형광X선 (염소특징스펙트럼선의 파장은 약 2.82) 을 방출한다.이 형광은 단색화 결정 색산을 거친 후, 염소 특징 스펙트럼만 탐측기에 도달할 수 있도록 허용하여 다른 원소의 간섭을 피한다.탐측기는 광신호를 전신호로 전환시키고 신호처리모듈의 증폭, 계수를 거친후 예비설정교정곡선을 통해 염소원소함량으로 환산하는데 전반 과정은 30~60초밖에 걸리지 않는다.

응용장면에서 석유업종은 핵심분야로서 원유, 휘발유, 디젤유 등 중의 염소함량 (검사범위 0.5ppm-1%) 을 검측하고 염소가 정유설비를 부식시키고 촉매제에 중독되는 등 문제를 회피하는데 사용된다.화학공업분야는 폴리염화비닐(PVC), 염소함유용제 등 제품의 품질관리통제에 사용되여 염소함량이 생산기준에 부합되도록 확보한다.환경 모니터링 중, 토양, 폐수 및 고체 폐기물 중의 염소 오염을 신속하게 선별하여 오염 관리에 데이터 지탱을 제공할 수 있다.

이 설비는 단파장 표적 검측 설계로 교란 방지 능력이 강하며, 특히 기체의 복잡한 샘플의 염소 함량 분석에 적합하다.동시에 복잡한 샘플을 미리 처리할 필요가 없고, 고체, 액체 샘플은 모두 직접 검측할 수 있으며, 검측 효율을 대폭 향상시켜 염소 함량을 신속하게 관리 통제하는 핵심 설비가 된다.