유전체 상수 (ε) 와 유전체 손실 (tan 델타) 은 재료의 전기적 성능을 설명하는 두 가지 핵심 매개 변수이며 그 관계는 다음과 같은 관점에서 이해할 수 있습니다.

1. 물리적 정의

매개전기상수: 재료가 전장에 전하를 저장하는 능력을 측정하여 매체중의 전장강도와 진공중의 전장강도의 비율로 정의한다.

매체 손실: 표징 재료가 교차 전장에서 극화 정체 또는 전도 효과로 인해 열 에너지로 전환되는 에너지 손실은 일반적으로 손실 각 정절 (tan 델타) 으로 계량화된다.

2. 핵심 관계

에너지 분배: 게다가 전장 에너지의 일부는 재료에 의해 극화 형식으로 저장 (매전 상수 구현) 되고, 다른 일부는 발열 손실 (매질 손실 구현) 이다.

복개전 상수: 고주파 하개전 상수는 복수 형식으로 존재하며, 허부 (ε'') 는 손실을 직접 반영하고, 실부 (ε') 는 에너지 저장 능력에 대응한다.

주파수 의존성: 저주파 시 극화 응답이 충분하고 개전 상수가 비교적 높다;고주파 하극화 지연이 심해져 손실이 현저하게 증가했다.

3. 엔지니어링 어플리케이션

재료 선택: 높은 에너지 저장 콘덴서는 높은ε, 낮은tan델타가 필요하다;고주파 회로 기판은 신호 감쇠를 줄이기 위해 저ε, 저tan 델타가 필요하다.

측정 방법: 평행판 콘덴서법 또는 공진법을 통해 와 tan델타를 동시에 측정하여 재료 성능을 평가한다