X선 흡수 정밀구조(XAFS) 스펙트럼(동기식 방사선 X선 흡수 근접구조)은 혁신적인 기술 설계로 기존 측정 한계를 돌파했으며, 일반적인 X광원을 이용하면 XAFS 스펙트럼 측정이 가능하다.이 특성은 동기 방사 등 중대한 과학 기술 인프라 및 전자 현미경, X선 연사기 등 과학 기기에 대해 비교적 좋은 보충과 확장을 형성하여 X선 스펙트럼 측정의 응용 장면과 커버리지를 효과적으로 넓혔다.
소형화된 데스크톱 시스템으로서 이 스펙트럼은 높은 사용 편의성을 갖추고 있어 다양한 사용자의 조작 수요에 전면적으로 적합하다.장비는 근접 패스트 스캔 기능을 지원하여 측정 효율을 대폭 향상시킵니다.동시에 제자리 테스트 등 확장 기능을 호환하여 다양한 실험 장면의 수요를 만족시킬 수 있다.설계에 있어서 인체공학 고도의 설계를 채용하여 조작이 인체의 습관에 더욱 부합하도록 하고 장시간 조작의 피로감을 낮춘다;실험 매개변수 사전 설정 기능이 내장되어 있어 측정 프로세스를 빠르게 시작하고 매개변수 디버깅 시간을 줄일 수 있습니다.서로 다른 샘플, 서로 다른 측정 모드에 대해 원클릭 자동 전환을 실현하여 조작 절차를 간소화할 수 있다.이밖에 계기는 원격데터전송을 지원하여 실험진척과 결과를 실시간으로 나타낼수 있으며 무인당직테스트를 전개할수 있어 실험의 편리성과 신축성을 한층 더 제고시킬수 있다.더욱 특기할 만한 것은 설비에 전문적인 응용 기술 지원과 데이터 분석 지원을 갖추어 사용자가 효율적으로 실험 연구를 완성할 수 있도록 돕는다;동시에 복사면제자질과 다중안전방호련쇄를 구비하여 인신과 사용안전을 전면적으로 보장한다.
전용 커브는 스펙트럼의 핵심 부품으로서 설비의 정확한 적응 능력을 보여준다.그 부동한 결정면의 배치가 구전하여 각 원소의 측정피복을 실현할수 있으며 다령역의 원소분석수요에 적합하다.사전 준직 설치 설계를 채택하여 플러그 앤 플레이를 실현하여 설치 디버깅의 난이도를 대폭 낮춘다;또한 사용자가 필요로 하는 측정 요소에 따라 특수 커브를 사용자 정의하여 장치가 최적의 측정 성능에 도달하고 개성화된 실험 요구에 정확하게 일치하도록 보장할 수 있다.
에너지 스캐닝 메커니즘은 정확한 측정에 핵심 보장을 제공합니다.이 기구는 연동 설계를 채택하여 광원, 커브, 샘플과 탐측기의 정밀 연동을 실현할 수 있으며 각 부품의 협동 작업을 확보할 수 있다;고정밀도, 고해상도의 뚜렷한 우세를 갖추고 운행 안정성이 좋아 측정 데이터의 정확성과 신뢰성을 효과적으로 보장할 수 있으며 실험 연구에 튼튼한 데이터 지탱을 제공할 수 있다.